ВЫПОЛНЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

ВЫПОЛНЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Шероховатость поверхности – образуется совокупностью неровностей, которые образуют ее рельеф. Профиль шероховатости, представляет собой ломаную линию пересечения поверхности плоскостью, перпендикулярной направлению неровностей. По данному профилю и производят определение шероховатости.

Измерение шероховатости может проводится по различным параметрам (Ra, Rz, Rmax, Sm, S, tp и др.). Наиболее часто используются следующие:

1. Среднее арифметическое отклонение профиля – Ra;

2. Высота неровностей профиля по десяти точкам – Rz;

3. Наибольшая высота неровностей профиля – Rmax;

4. Средний шаг неровностей профиля – Sm;

5. Средний шаг местных выступов профиля – S;

6. Относительная опорная длина профиля – tp.

Наиболее удобный параметр измерения шероховатости – Ra. Он более всего подходит для измерения. В случаях, когда прямой контроль по параметру Ra затруднен (из-за сложного профиля поверхности), может быть использован параметр Rz.

Оценку шероховатости поверхности проводят при помощи качественных и количественных методов. Основой качественных методов является сравнение поверхностей с образцами шероховатости. Количественные методы оценки имеют в своей основе измерение микронеровностей профилометрами и профилографами.

Определение шероховатости при помощи стандартных образцов получило очень широкое распространение в цеховых условиях путем сравнения визуально (через лупу или невооруженным глазом) с образцом, который изготовлен из того же материала и поверхность которого обработана тем же способом, что и деталь. Данный метод обеспечивает качественную оценку в пределах Ra от 0,63 до 5 мкм. Поверхности с более высоким классом частоты (которая лежит в пределах Ra от 0,08 до 0,32 мкм) определяются микроскопами сравнения.

Существуют так же количественные методы оценки. Для этого используются специальные приборы, измеряющие микронеровности. Часто для данных бесконтактных измерений применяются оптические приборы теневой проекции, светового сечения, а так же интерференции света. Данный метод позволяет измерять шероховатость до Rz = 0,8 мкм.

Что бы определить чистоту еще более чистых поверхностей с диапазоном, лежащем в пределах Rz = 0,8…0,03 мкм используют микроинтерферометры, которые используют принцип интерференции света.

Для измерений контактным способом используются приборы, которые используют для метод ощупывания алмазной иглой: профилометры и профилографы. Профилографы в дополнение к измерениям, еще и отображают профиль поверхности.

Когда необходимо провести измерение деталей крупных размеров и в труднодоступных местах, отсутствует возможность использования образцов шероховатости или приборов. В этом случае используется метод слепков. Для этого специальную массу прикладывают с усилием к поверхности изделия. Когда масса застынет, она отделяется от поверхности, в результате чего получается слепок, шероховатость которого соответствует шероховатости изделия.